C 312+M 677+A 815
助听器测试专用，压力场，2cc，22dBA
符合 IEC 60318-5（2006），ANSI S3.7（2008）对于2cm³声学耦合腔的要求
无需去除传声器保护栅进行装配，降低传声器损坏的风险
C 313+M 677+A 815
助听器测试专用，1/2英寸，压力场，2cc，22dBA，可搭配硅胶塞
符合 IEC 60318-5（2006），ANSI S3.7（2008）对于2cm³声学耦合腔的要求
无需去除传声器保护栅进行装配，降低传声器损坏的风险
可搭配硅胶塞固定产品，确保气密性的同时，产线取放测试更加快捷方便
C 318+M 671+A 804
318头戴式，压力场，4.2CC，IEPE，带底座，147dB
318压力场人工耳套件，含C 318耳腔，A 804前置底座，M 671压力场麦克风
适用于头戴式耳机
IEPE激励
推荐搭配PM 0083 IEPE调理器使用
CM 311
压力场，声学耦合腔，入耳式耳机测试
符合IEC 60318-4:2010 Ed.1.0 （原IEC 60711）电声学-人耳及头部的模拟器，第4部分：测量插入式耳机用堵塞耳模拟器
符合ITU-T建议P.57(08/96)P系列：电话传输质量，测量目标的设备：仿真耳
符合SJ/T 10659-1995测量插入式耳机用堵塞耳模拟器
CM 311+A 803
压力场，IEPE，入耳式耳机测试
符合IEC 60318-4:2010 Ed.1.0 （原 IEC 60711）电声学-人耳及头部的模拟器，第4 部分：测量插入式耳机用堵 塞耳模拟器
符合ITU-T 建议P.57(08/96)P 系列：电话传输质量，测量目标的设备：仿真耳
符合SJ/T 10659-1995 测量插入式耳机用堵塞耳模拟器
CM 311+A 804
压力场，IEPE，带底座，入耳式耳机测试
符合IEC 60318-4:2010 Ed.1.0 （原IEC 60711）电声学-人耳及头部的模拟器，第4 部分：测量插入式耳机用堵塞耳模拟器
符合ITU-T 建议P.57(08/96)P 系列：电话传输质量，测量目标的设备：仿真耳
符合SJ/T 10659-1995 测量插入式耳机用堵塞耳模拟器
CM 314+A 815
压力场，IEPE，20kHz，20dBA，入耳式耳机测试
符合IEC 60318-4:2010 Ed.1.0 （原IEC 60711）电声学-人耳及头部的模拟器，第4部分：测量插入式耳机用堵塞耳模拟器
符合ITU-T建议P.57(08/96)P系列：电话传输质量，测量目标的设备：仿真耳
SS 770-11
1/2英寸，压力场，16dBA，入耳式耳机测试，0V（预极化）
超低底噪压力场人工耳套件
高灵敏度
低本底噪声
SS 770-18
压力场，4.2CC，21dBA，头戴式耳机测试，0V（预极化）
高灵敏度
低本底噪声
SS 771-11
压力场，1/2英寸，20kHz，12dBA，超低底噪麦克风套件,入耳式耳机测试，0V（预极化）
符合IEC 60318-4:2010 Ed.1.0 （原IEC 60711）电声学-人耳及头部的模拟器，第4部分：测量插入式耳机用堵塞耳模拟器
高灵敏度，低本底噪声
SS 771-11-L2
压力场，20kHz，12dBA，超低底噪麦克风套件,入耳式耳机测试，0V（预极化）
符合 IEC 60318-4:2010 Ed.1.0 （原 IEC 60711）电声学-人耳及头部的模拟器，第 4 部分：测量插入式耳机用堵塞耳模拟器
高灵敏度，低本底噪声，高动态范围
SS 772-11
压力场，1/2英寸，10dBA，超低底噪麦克风套件，1.26cc，入耳式耳机测试，0V（预极化）
符合IEC 60318-4:2010 Ed.1.0 （原IEC 60711）电声学-人耳及头部的模拟器，第4部分：测量插入式耳机用堵塞耳模拟器
高灵敏度，低本底噪声
SS 775-11
压力场，40kHz，40kHz，超高频麦克风套件,入耳式耳机测试，入耳式耳机测试
高频率测量
高声压测量
SS 776
压力场,162dB，80kHz，超高频麦克风套件，入耳式耳机测试，0V（预极化）
超高频率测量
超高声压测量
ER 806
仿真耳廓Pinna
仿真耳廓
锥形耳道
适用于入耳式产品声学相关研发，如入耳式助听器，入耳式降噪耳机
需要配合AH 202头架，和MPA 711人工耳使用
